{"id":3620,"date":"2025-11-26T00:00:00","date_gmt":"2025-11-26T00:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/lp.szlogic.cn\/knowledge-center\/aging-and-burn-in-tests-optical-transceiver-reliability\/"},"modified":"2026-06-22T04:39:58","modified_gmt":"2026-06-22T04:39:58","slug":"aging-and-burn-in-tests-optical-transceiver-reliability","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/knowledge-center\/aging-and-burn-in-tests-optical-transceiver-reliability","title":{"rendered":"Sicherstellung der Langlebigkeit: Ein Leitfaden zu Alterungstests und Burn-in-Tests f\u00fcr optische Transceiver"},"content":{"rendered":"<figure class=\"wp-block-image aligncenter size-large\"><img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" width=\"1200\" height=\"712\" src=\"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/eabfbc372698421cb3e7fae5f1e89a8a.webp\" alt=\"Aging and Burn-in Tests of optical transceiver\" class=\"wp-image-3619\" srcset=\"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/eabfbc372698421cb3e7fae5f1e89a8a.webp 1200w, https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/eabfbc372698421cb3e7fae5f1e89a8a-300x178.webp 300w, https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/eabfbc372698421cb3e7fae5f1e89a8a-1024x608.webp 1024w, https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/eabfbc372698421cb3e7fae5f1e89a8a-768x456.webp 768w, https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/wp-content\/uploads\/2026\/05\/eabfbc372698421cb3e7fae5f1e89a8a-18x12.webp 18w\" sizes=\"(max-width: 1200px) 100vw, 1200px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">In der hochgradig anspruchsvollen Welt von Rechenzentren und Telekommunikation ist ein Ausfall des Netzwerks keine Option. Im Herzen dieser Netzwerke befinden sich <a target=\"_blank\" rel=\"\" href=\"https:\/\/www.l-p.com\/store-25432-optics-transceivers-sfp-modules.htm\"><strong>Optische Transceiver<\/strong><\/a>\u2014die kritischen Komponenten, die elektrische Signale in Lichtsignale umwandeln und umgekehrt. Doch wie k\u00f6nnen Netzwerk-Ingenieure sicherstellen, dass diese kleinen, hochentwickelten Ger\u00e4te jahrelang zuverl\u00e4ssig unter st\u00e4ndiger Last funktionieren? Die Antwort liegt in zwei wesentlichen, jedoch oft missverstandenen Qualit\u00e4tsicherungsprozessen: <strong>Alterungstests<\/strong> et <strong>Einbrenntests<\/strong>.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Dieser Artikel geht diesen entscheidenden Verfahren ausf\u00fchrlich nach und erl\u00e4utert, wie sie die Integrit\u00e4t Ihres Netzwerks sch\u00fctzen und den nahtlosen Datenfluss gew\u00e4hrleisten, auf den das moderne Gesch\u00e4ft angewiesen ist. Wir werden au\u00dferdem untersuchen, wie f\u00fchrende Hersteller wie <a target=\"_blank\" rel=\"\" href=\"https:\/\/www.link-pp.com\/\"><strong>LINK-PP<\/strong><\/a> diese Tests in ihre Fertigung integrieren, um eine beispiellose Zuverl\u00e4ssigkeit zu liefern.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\" ><strong>\u2705 Kernpunkte<\/strong><\/h2>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li><p><strong>Alterungs- und Einbrenntests<\/strong> sind \u00e4u\u00dferst wichtig. Sie stellen sicher, dass optische Transceiver ordnungsgem\u00e4\u00df funktionieren. Diese Tests helfen, Probleme zu erkennen, bevor der Transceiver im Netzwerk eingesetzt wird.<\/p><\/li><li><p>Einbrenntests belasten den Transceiver stark. Dadurch lassen sich fr\u00fchzeitige Probleme rasch identifizieren. Alterungstests simulieren die normale Nutzung \u00fcber einen langen Zeitraum. Sie pr\u00fcfen, ob der Transceiver dauerhaft funktionsf\u00e4hig bleibt.<\/p><\/li><li><p>Reinigen Sie optische Module stets vor dem Testen. Achten Sie sorgf\u00e4ltig auf die Testergebnisse. Dadurch bleiben die Tests objektiv und liefern korrekte Ergebnisse.<\/p><\/li><li><p>Befolgen Sie Richtlinien wie Telcordia GR-468 und IEEE 802.3. Diese Richtlinien helfen dabei, dass Ihre optischen Transceiver die Qualit\u00e4tsanforderungen erf\u00fcllen und zuverl\u00e4ssig funktionieren.<\/p><\/li><li><p>Aktualisieren Sie Ihre Testverfahren und -tools regelm\u00e4\u00dfig. Das Erlernen neuer Best Practices tr\u00e4gt dazu bei, dass Ihr optisches Netzwerk effizienter arbeitet und l\u00e4nger h\u00e4lt.<\/p><\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\" ><strong>\u2705 Definition der Tests: Einbrenn- &amp; Alterungstest<\/strong><\/h2>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Obwohl beide Tests Transceiver einer Belastung unterziehen, unterscheiden sich ihre Ziele, Dauer und Anwendung im Produktlebenszyklus deutlich.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\"><strong>Was ist ein Einbrenntest?<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">A <strong>Einbrenntest<\/strong> ist ein initialer, beschleunigter Stresstest, der an einer Stichprobe oder an 100\u202f% der Produktionsserie durchgef\u00fchrt wird. Sein prim\u00e4res Ziel besteht darin, <strong>\u201cS\u00e4uglingssterblichkeit\u201d<\/strong> zu identifizieren und auszuschlie\u00dfen \u2013 also fr\u00fche Defekte, die innerhalb der ersten Stunden oder Tage des Betriebs auftreten.<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li><p style=\"margin: 0px;\"><strong>Verfahren:<\/strong> Transceiver werden eingeschaltet und f\u00fcr einen relativ kurzen Zeitraum (typischerweise 24 bis 168 Stunden) bei erh\u00f6hten Temperaturen (z.\u202fB. 70\u202f\u00b0C \u2013 85\u202f\u00b0C) betrieben.<\/p><\/li><li><p style=\"margin: 0px;\"><strong>Ziel:<\/strong> Ger\u00e4te mit latenten Fertigungsfehlern, schwachen L\u00f6tverbindungen oder minderwertigen Komponenten vor dem Versand an Kunden auszusortieren.<\/p><\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\"><strong>Was ist ein Alterungstest?<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">An <strong>Alterungstest<\/strong> (oder Lebensdauertest) ist eine Langzeitevaluierung, die darauf abzielt, die Auswirkungen von Betriebsverschlei\u00df \u00fcber die vorgesehene Lebensdauer des Transceivers zu simulieren. Er dient nicht nur der Fehlererkennung, sondern auch der Vorhersage der Langzeit-Leistungsf\u00e4higkeit und Zuverl\u00e4ssigkeit.<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li><p style=\"margin: 0px;\"><strong>Verfahren:<\/strong> Die Ger\u00e4te werden \u00fcber lange Zeit unter Hochtemperatur- und Hochleistungsbedingungen betrieben, h\u00e4ufig f\u00fcr Hunderte oder sogar Tausende von Stunden.<\/p><\/li><li><p style=\"margin: 0px;\"><strong>Ziel:<\/strong> Um die Leistungsdegradation im Zeitverlauf zu untersuchen und die Lebensdauer des Produkts abzusch\u00e4tzen <a target=\"_blank\" rel=\"\" href=\"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/glossary\/mean-time-between-failure-mtbf-equipment-reliability-guide\/\"><strong>Mittlere Zeit zwischen Ausf\u00e4llen (MTBF, Mean Time Between Failures)<\/strong><\/a>, sowie die Konstruktion und Materialauswahl zu validieren.<\/p><\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\" ><strong>\u2705 Burn-in vs. Alterung: Ein direkter Vergleich<\/strong><\/h2>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Die nachstehende Tabelle fasst die wesentlichen Unterschiede zwischen diesen beiden entscheidenden Verfahren zusammen.<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-table\">\n<table class=\"has-fixed-layout\">\n<colgroup><col style=\"min-width: 25px;\"\/><col style=\"min-width: 25px;\"\/><col style=\"min-width: 25px;\"\/><\/colgroup><tbody><tr><th colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Funktion<\/p><\/th><th colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Einbrenntest<\/p><\/th><th colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Alterungstest<\/p><\/th><\/tr><tr><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p><strong>Hauptziel<\/strong><\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Fr\u00fche \u201cS\u00e4uglingssterblichkeit\u201d-Ausf\u00e4lle eliminieren<\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Langfristige Zuverl\u00e4ssigkeit und Lebensdauer vorhersagen<\/p><\/td><\/tr><tr><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p><strong>Testdauer<\/strong><\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Kurzfristig (z.\u202fB. 24 \u2013 168 Stunden)<\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Langfristig (z.\u202fB. 500 \u2013 1000+ Stunden)<\/p><\/td><\/tr><tr><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p><strong>Lebenszyklusphase<\/strong><\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Ende der Produktion \/ Vor dem Versand<\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Design-Validierung \/ Qualifizierung<\/p><\/td><\/tr><tr><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p><strong>Belastungsgrad<\/strong><\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Hoch (beschleunigt)<\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Sehr hoch (stark beschleunigt)<\/p><\/td><\/tr><tr><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p><strong>Schl\u00fcsselkenngr\u00f6\u00dfe<\/strong><\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Durchlauf-\/Ausschussquote<\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Trend der Leistungsdegradation<\/p><\/td><\/tr><tr><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p><strong>Kostenimplikation<\/strong><\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>Geringere Kosten pro Einheit, verhindert R\u00fccksendungen aus dem Feld<\/p><\/td><td colspan=\"1\" rowspan=\"1\"><p>H\u00f6here F&amp;E-Kosten, gew\u00e4hrleistet Produktreife<\/p><\/td><\/tr><\/tbody>\n<\/table>\n<\/figure>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\" ><strong>\u2705 Die entscheidende Rolle von Tests in modernen Netzwerken<\/strong><\/h2>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Warum so viel Zeit und Ressourcen in diese Tests investieren? Die Gr\u00fcnde sind vielf\u00e4ltig und wirken sich unmittelbar auf das Ergebnis aus.<\/p>\n\n\n\n<ol class=\"wp-block-list\" >\n<li><p style=\"margin: 0px;\"><strong>Erh\u00f6hte Zuverl\u00e4ssigkeit und Betriebszeit:<\/strong> Durch das Aussortieren schwacher Einheiten reduzieren diese Tests die Wahrscheinlichkeit von Ausf\u00e4llen im Einsatz drastisch \u2013 was f\u00fcr sicherheitskritische Anwendungen in Finanzwesen, Gesundheitswesen und Cloud-Diensten von zentraler Bedeutung ist. Eine robuste <strong>Strategie zur Zuverl\u00e4ssigkeit optischer Transceiver<\/strong> ist unverzichtbar.<\/p><\/li><li><p style=\"margin: 0px;\"><strong>Leistungsbenchmarking:<\/strong> Alterungstests liefern unsch\u00e4tzbare Daten dar\u00fcber, wie sich wichtige Parameter \u2013 wie <strong>Ausgangsleistung<\/strong>, <a target=\"_blank\" rel=\"\" href=\"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/glossary\/what-to-know-about-receiver-sensitivity-for-devices\/\"><strong>Empfangsempfindlichkeit<\/strong><\/a>, und <a target=\"_blank\" rel=\"\" href=\"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/glossary\/extinction-ratio-importance-signal-quality-data-reliability\/\"><strong>Extinktionsverh\u00e4ltnis<\/strong><\/a>\u2014Drift im Laufe der Zeit. Dies hilft bei der Festlegung genauer betrieblicher Toleranzen.<\/p><\/li><li><p style=\"margin: 0px;\"><strong>Kosteneinsparungen:<\/strong> Obwohl Tests zus\u00e4tzliche Kosten vorab verursachen, sind sie weitaus g\u00fcnstiger als die Kosten durch Ausf\u00e4lle im Einsatz, zu denen Hardwareersatz, Notwartung und Imagesch\u00e4den geh\u00f6ren. Dies unterstreicht eindringlich die <strong>Kosten-Nutzen-Analyse f\u00fcr die Transceiver-Burn-in-Pr\u00fcfung<\/strong>.<\/p><\/li><li><p style=\"margin: 0px;\"><strong>Konformit\u00e4t und Qualifizierung:<\/strong> F\u00fcr viele Serviceprovider der ersten Stufe und Hyperscaler ist das Bestehen bestimmter Alterungs- und Burn-in-Protokolle eine zwingende Voraussetzung f\u00fcr die Lieferantenqualifizierung.<\/p><\/li>\n<\/ol>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\" ><strong>\u2705 Ein genauerer Blick: Der LINK-PP QSFP28-100G-SR4-Optiktransceiver<\/strong><\/h2>\n\n\n\n<div><div widgetid=\"bf2c3626caa211f0be050a37e7beaac1\" format=\"embedded\" data-widget-id=\"bf2c3626caa211f0be050a37e7beaac1\" data-mode=\"production.zh\" style=\"display: block;\"><\/div><\/div>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Um zu verstehen, wie diese Prinzipien in einem realen Produkt umgesetzt werden, betrachten wir ein konkretes Modul: den <a target=\"_blank\" rel=\"\" href=\"https:\/\/www.l-p.com\/products\/473115.htm\"><strong>LINK-PP QSFP28-100G-SR4<br><\/strong><\/a>. Dieser Transceiver ist f\u00fcr hochdichte 100G-Ethernet-Anwendungen in Rechenzentren konzipiert, weshalb seine Zuverl\u00e4ssigkeit von entscheidender Bedeutung ist.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">The <strong>LINK-PP QSFP28-100G-SR4<br><\/strong> wird nicht nur so gebaut, dass er Industriestandards erf\u00fcllt, sondern so, dass er diese \u00fcbertreffen kann. Bevor eine Einheit einen Kunden erreicht, durchl\u00e4uft sie ein strenges Qualit\u00e4tssicherungsverfahren.<\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li><p style=\"margin: 0px;\"><strong>Burn-in-Prozess:<\/strong> Jede einzelne <strong>LINK-PP QSFP28-100G-SR4<br><\/strong> Modul wird einem 72-st\u00fcndigen Hochtemperatur-Burn-in-Zyklus unterzogen. W\u00e4hrend dieser Phase wird seine Laserdiode aktiv moduliert und ihre <a target=\"_blank\" rel=\"\" href=\"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/glossary\/ddm-dom-in-optical-transceivers\/\"><strong>Digitale Diagnose\u00fcberwachung (DDM)<\/strong><\/a> Funktionen werden kontinuierlich protokolliert. Jedes Modul, das unregelm\u00e4\u00dfigen Stromverbrauch, Temperaturschwankungen oder Probleme mit der Signalintegrit\u00e4t aufweist, wird sofort aussortiert.<\/p><\/li><li><p style=\"margin: 0px;\"><strong>Alterungs- und Designvalidierung:<\/strong> W\u00e4hrend der Entwicklungsphase wurden Stichprobenchargen einer beschleunigten <strong>Alterungspr\u00fcfung f\u00fcr faseroptische Module unterzogen,<\/strong> die \u00fcber 1000 Stunden bei 85 \u00b0C dauerte. Diese umfangreiche Pr\u00fcfung validierte die thermische Leistungsf\u00e4higkeit ihrer <a target=\"_blank\" rel=\"\" href=\"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/glossary\/rosa-in-optical-modules\/\"><strong>ROSA<\/strong><\/a> (Empf\u00e4nger-optische Subassembly) und <a target=\"_blank\" rel=\"\" href=\"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/glossary\/tosa-in-optical-modules-importance\/\"><strong>TOSA<\/strong><\/a> (Sender-optische Subassembly) und stellte sicher, dass die ausgew\u00e4hlten Materialien und Fertigungsverfahren eine stabile Leistung weit \u00fcber ihre 5-j\u00e4hrige Einsatzdauer hinaus garantieren.<\/p><\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Dieser zweischichtige Pr\u00fcfansatz macht <a target=\"_blank\" rel=\"\" href=\"https:\/\/www.link-pp.com\/\"><strong>LINK-PP<\/strong><\/a> zu einem vertrauensw\u00fcrdigen Namen f\u00fcr <strong>Hochgeschwindigkeits-Rechenzentrum-Konnektivit\u00e4t<\/strong>, was Netzwerkarchitekten, die sich keine unvorhergesehenen Ausfallzeiten leisten k\u00f6nnen, Sicherheit bietet.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\" ><strong>\u2705 Fazit: Eine Investition in unersch\u00fctterliche Netzwerkgrundlagen<\/strong><\/h2>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\"><strong>Alterungs- und Einbrenntests<\/strong> sind keine blo\u00dfen Punkte auf einer Fertigungs-Checkliste; sie sind eine Qualit\u00e4tsphilosophie. Sie repr\u00e4sentieren ein proaktives Engagement f\u00fcr Zuverl\u00e4ssigkeit, das sich w\u00e4hrend des gesamten Lebenszyklus eines Netzwerks auszahlt. Indem Unternehmen diese strengen Pr\u00fcfprotokolle verstehen und einfordern, k\u00f6nnen sie fundierte Entscheidungen treffen und Komponenten von Herstellern wie <a target=\"_blank\" rel=\"\" href=\"https:\/\/www.link-pp.com\/\"><strong>LINK-PP<\/strong><\/a> ausw\u00e4hlen, die langfristige Leistung statt kurzfristiger Einsparungen priorisieren.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">In einer \u00c4ra, die von Daten definiert ist, stellt die Investition in gr\u00fcndlich gepr\u00fcfte optische Transceiver die ultimative Strategie dar, um eine schnelle, effiziente und \u2013 vor allem \u2013 widerstandsf\u00e4hige Netzwerkinfrastruktur aufzubauen.<\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\" ><strong>\u2705 FAQ<\/strong><\/h2>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\" >Welches ist das Hauptziel der Burn-in-Pr\u00fcfung?<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Mit der Burn-in-Pr\u00fcfung identifizieren Sie schwache optische Transceiver, bevor Sie sie installieren. Diese Pr\u00fcfung hilft Ihnen, Fr\u00fchfehler in Ihrem Netzwerk zu vermeiden.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\" >Wie lange dauert eine Alterungspr\u00fcfung normalerweise?<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Alterungspr\u00fcfungen dauern oft mehrere Tage oder sogar Wochen. In dieser Zeit k\u00f6nnen Sie beobachten, wie sich der optische Transceiver \u00fcber einen l\u00e4ngeren Zeitraum hinweg verh\u00e4lt.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\" >Ben\u00f6tigen Sie spezielle Ger\u00e4te f\u00fcr diese Pr\u00fcfungen?<\/h3>\n\n\n\n<blockquote class=\"wp-block-quote is-layout-flow wp-block-quote-is-layout-flow\"><p>Ja, Sie ben\u00f6tigen Burn-in-\u00d6fen, Fotodetektoren und \u00dcberwachungs-Fotodioden. Diese Werkzeuge helfen Ihnen, die optischen Signale zu \u00fcberpr\u00fcfen und die Pr\u00fcfumgebung zu kontrollieren.<\/p><\/blockquote>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\" >K\u00f6nnen Sie Alterungs- und Burn-in-Pr\u00fcfungen \u00fcberspringen, wenn der Transceiver optisch einwandfrei erscheint?<\/h3>\n\n\n\n<p class=\"wp-block-paragraph\">Diese Pr\u00fcfungen sollten niemals \u00fcbersprungen werden. Ein Transceiver mag optisch einwandfrei erscheinen, versagt aber m\u00f6glicherweise unter Belastung. Die Pr\u00fcfungen helfen Ihnen, verborgene Probleme zu erkennen.<\/p>\n\n\n\n<script src=\"https:\/\/cdn.mylandingpages.co\/widgets\/platform\/platform.widget.js\" async=\"true\"><\/script>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Alterungs- und Burn-in-Tests gew\u00e4hrleisten die Zuverl\u00e4ssigkeit optischer Transceiver, indem sie Fr\u00fchfehler erkennen, die Leistung verbessern und die Lebensdauer der Module verl\u00e4ngern.<\/p>","protected":false},"author":1,"featured_media":3619,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[1],"tags":[13,14,15,18,24,26],"class_list":["post-3620","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-knowledge-center","tag-100g-modules","tag-10g-sfp-transceivers","tag-link-pp-1g-sfp-modules","tag-40g-qsfp-transceivers","tag-link-pp","tag-optics-transceivers"],"blocksy_meta":[],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/3620","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=3620"}],"version-history":[{"count":2,"href":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/3620\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":10835,"href":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/3620\/revisions\/10835"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/3619"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=3620"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=3620"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/resourceslp.szlogic.cn\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=3620"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}